Spektroskopie nanostruktur: Elipsometrie Muellerovy matice Archiv

Předmět byl vypsán v rámci pátého ročníku UMK. Příští ročník nabídne opět zcela novou sadu předmětů.

Přednášející: Daniel Vala

Hodnocení: 6 kr., zkouška

Předpoklady: Úspešně složená zkouška z předmětu Optika - Elektromagnetismus (FY-OEM). Znalost středokolské matematiky. Znalost maticového počtu a středoškolské optiky výhodou, nikoliv podmínkou. Nebát se desivých názvů jako "Muellerova matice".

Cíle: Předmět rozšiřuje a prohlubuje znalosti získané v předmětu Optika - Elektromagnetismus (FY-OEM). Posluchači budou obeznámeni s konceptem, výhodami a limitacemi spektroskopické elipsometrie s důrazem na interpretaci experimentálních dat.

Anotace: Spektroskopická elipsometrie a polarimetrie Muellerovy matice patří do rodiny optických nedestruktivních metod charakterizace a studia rozličných (nano)materiálů a (nano)struktur. Kromě tradičního využití elipsometrie Muellerovy matice na poli charakterizace tenkovrstevných (nanometrických) systémů, se studenti seznámí s netradičními aplikacemi této metody, počínaje zjištěním indexu lomu anisotropních krystalů, přes měření difrakční účinnosti pokročilých holografických struktur, až po in vivo vyšetřování rakovinné tkáně. Posluchači budou seznámeni se základními principy a instrumentací elipsometru Muellerovy matice, s výhodami i úskalími a limitacemi této metody. Významnou součástí kurzu bude pochopení a interpretace experimentálních dat, nastíněny budou možnosti, jak tato data fyzikálně zpracovávat a modelovat.

Líbíl se ti předmět? Pověz o něm kamarádům!